- 上海市宝山城市工业园城银路888号
- 86-21-52655955
sales@chictest.com
满足的试验方法：MIL-STD-883H、MIL-STD-202G、 GB/T2423.22-2012 试验 N温度变化、GJB150.5-1986 军用设备环境试验方法 温度冲击试验、GJB360.7-1987 电子及电气元件试验方法 温度冲击试验、IEC60068-2-14等标准。采用两箱法方式，一个热箱和一个冷箱，样品放置在提篮中运动。
执行标准及检定方法：GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件、GB/T 5170.2-2008 温度试验设备检验方法。
|
提篮尺寸 |
650*550*550mm（D×W×H） |
|
提篮容积 |
约200L |
|
外部尺寸 |
2100*1300*2100mm(D×W×H) |
|
电源 |
AC380±10%V；50Hz |
|
功率 |
约 36kW |
|
重量 |
1300kg |
|
高温室温度范围 |
RT+20℃～+200℃ |
|
升温时间 |
+20～+200℃，≤60min |
|
低温室温度范围 |
0~-55℃ |
|
降温时间 |
+20~-55℃，≤40min |
|
温度偏差 |
±2℃ |
|
温度波动度 |
±0.5℃ |
|
温度冲击范围 |
-50℃，+150℃ |
|
温度回复时间 |
≤5min |
|
高温暴露时间 |
30min（可设定） |
|
低温暴露时间 |
30min（可设定） |